D03100 - SEMI D31 - FPD画質検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義 StdPbc-0517 静電気電荷起因の装置動作における問題や付随的に発生する製品欠陥は，半導体製造装置の所有コスト（COO： cost of ownership）へのマイナス要因となるかもしれない（SEMI E35を参照）｡

Name: D03100 - SEMI D31 - FPD画質検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義 StdPbc-0517 静電気電荷起因の装置動作における問題や付随的に発生する製品欠陥は，半導体製造装置の所有コスト（COO： cost of ownership）へのマイナス要因となるかもしれない（SEMI E35を参照）｡
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静電気電荷起因の装置動作における問題や付随的に発生する製品欠陥は，半導体製造装置の所有コスト（COO： cost of ownership）へのマイナス要因となるかもしれない（SEMI E35を参照）｡

この文書の目的は，(1) 10/0

SEMI E10-0701 (technical revision)

orgで入手可能となる。初版は1978年発行，前版は2005年7月発行。

SEMI C36-1106 (technical revision)

D03100 - SEMI D31 - FPD画質検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義 StdPbc-0517 静電気電荷起因の装置動作における問題や付随的に発生する製品欠陥は，半導体製造装置の所有コスト（COO： cost of ownership）へのマイナス要因となるかもしれない（SEMI E35を参照）｡global Flat Panel Display Metrology Technical Committee20121220global Audits and Reviews Subcommittee20132www. semiviews. org www. semi. org200211 2012 FPD CRTHMDFPD1010100100FPD0. 5m5m Referenced SEMI Standards SEMI D57 Definition of Measurement Index (VCT) for Mura in FPD Image Quality Inspection

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